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摘要
以碳纳米管负载粒径小于10 nm的铂金纳米颗粒为研究对象,采用热场发射扫描电镜表征其微观形貌,探讨不同的探测器和加速电压对样品成像效果的影响。结果表明,对于同一种探测器,低加速电压测试条件下可获得比较清晰的样品表面细节;在加速电压为1 kV时,使用SE2和InLens探测器无法观测到碳纳米管表面负载的铂金纳米颗粒,而使用ESB探测器可以清晰观察到粒径为3～10 nm的铂金颗粒在碳纳米管上的分布情况。
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单位有色金属及材料加工新技术教育部重点实验室; 桂林理工大学
