导致MLCC失效的常见微观机理

作者：李世岚; 包生祥; 彭晶; 马丽丽

来源：电子元件与材料, 2007, (05): 58-61.

DOI：10.14106/j.cnki.1001-2028.2007.05.019

• 电子技术
• MLCC
• 失效分析
• 内在因素
• 微观机理 electron technology
• failure analysis
• internal factors
• microcosmic mechanism

多层陶瓷电容器(MLCC)在实际使用过程中,电参数会发生不同程度的偏离,降低了可靠性,直到MLCC失效。其失效原因可分为外部因素和内在因素,分析讨论了影响MLCC可靠性的内在因素——MLCC内部分层、导电粒子、金属离子迁移和介电老化等常见微观失效机理,并提出了主要应对措施。

• 单位
  电子薄膜与集成器件国家重点实验室; 电子科技大学