一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法

作者：葛云侠; 武乾文; 赵益波^*; 陈龙

来源：国外电子测量技术, 2022, 41(04): 1-7.

DOI：10.19652/j.cnki.femt.2203702

• 存储器内建自测试
• 块存储器
• March C+
• 故障覆盖率

在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中，传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆盖率，在March C+算法的基础上，提出一种March CG新算法。该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据背景提高字内耦合故障、写干扰故障覆盖率。构建高效率存储器内建自测试电路，采用March CG算法实现对单个BRAM和多个BRAM的测试。实验表明，在单个BRAM测试中，相比March C+算法，March CG算法对故障的覆盖率提高了13.6%;在多个BRAM测试中，对BRAM资源的覆盖率达到了100%。

• 单位
  中国电子科技集团公司; 南京信息工程大学