针对边界扫描算法中，采用无限制短路故障模型生成测试矩阵时，存在测试时间长、诊断精度低的问题，在对结构测试算法进行研究的基础上，提出一种基于蚁群算法的测试向量生成方法。通过电路板结构信息建立有限制故障模型，引入图论方法，利用蚁群算法生成最优化的测试向量集。经过实际电路板实验，在保证测试完备性的前提下，该方法生成的测试向量集具有较好的紧凑性，有效地提高测试效率，降低测试成本。
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