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摘要
相位延迟量是偏振光学元件的一个重要指标，为了精准快速地测量偏振元件的相位延迟量，本论文提出一种具有相位补偿的级联调制的偏振元件相位延迟量检测方法。该方法采用弹光(PEM)调制器和电光(EOM)调制器作为相位延迟量检测系统的级联调制元件，利用Soleil-Barbinet相位补偿器对样品进行光学补偿。基于数字锁相技术与FPGA的片上可编程系统，检测光强极值点对应的Soleil-Barbinet相位补偿器的相位参数并进行数据处理，实现样品的相位延迟量检测。实验表明利用该方法测量样品的相位延迟量的最大相对误差为0.857%，测量精度99.143%，验证了将偏振调制法和补偿法相结合测量相位延迟量具有较高的精度，且降低了补偿器本身对测量误差的影响。
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