摘要

为了实现变温环境下薄膜太阳电池电学性能的自动测试,提出了基于方形四探针法测试原理,采用由工业计算机(IPC)和Keithley 2401数字源表、智能温控仪(SRS13A,SRS14A)组成的主从式控制系统,实现薄膜太阳电池器件的电学性能测试。通过RS-485总线完成智能温控仪与上位机间数据通信,达到对测试环境和样品温度的智能控制。采用GPIB总线实现上位机与Keithly 2401数字源表间的信息交换,获取待测样品的电压、电流、电阻等参数值。基于Lab VIEW开发环境编写的上位机软件被用于完成数据处理,T—R,T—I—U特征曲线的绘制和显示。为了验证该测试系统的性能,对化合物半导体(Zn Te:Cu)薄膜和Cd Te薄膜太阳电池器件的电学性能进行了测试。结果表明,该系统能够完成变温环境下薄膜太阳电池器件电学性能的测试,并且该系统运行可靠、操作简便,能够满足实验室教学和科研的需要。