一种新颖的FPGA逻辑故障测试定位方法

作者：李文昌; 李平; 杨志明; 阮爱武; 廖永波; 李威

来源：微电子学, 2011, (05): 755-758.

• FPGA
• 三态门
• 故障测试
• 故障定位 FPGA
• TBUF
• Fault testing
• Fault diagnosis

FPGA的生产测试是FPGA设计中非常重要的环节,不仅要求能够检测芯片是否发生故障,还必须进行精确的故障定位,以便设计人员对设计故障和工艺故障进行改进。依靠将CLB输出级联的方式进行故障定位,往往使测试激励在时序设计上变得更加复杂。灵活利用CLB周围的三态门资源,可以对FPGA逻辑故障进行快速准确的定位,且测试激励简洁。

• 单位
  电子科技大学; 电子薄膜与集成器件国家重点实验室; 成都华微电子科技有限公司