基于体硅MEMS技术的悬浮微结构加工工艺研究

作者:刘晓兰; 朱政强; 党元兰; 徐亚新
来源:电子与封装, 2015, 15(07): 37-40.
DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2015.0077

摘要

针对体硅MEMS加工技术的特点,确定了悬浮微结构的加工工艺流程,并对加工过程中的硅基深槽腐蚀工艺和ICP刻蚀工艺这两项关键技术及其中的重要影响因素进行了研究,得到了硅基深槽腐蚀的溶液类型、浓度和温度等工艺参数,以及ICP刻蚀工艺的功率、气体流量等工艺参数。根据优化的工艺参数,采用厚度为400μm的N型<100>硅片加工了外形尺寸为3 mm×3 mm、线宽尺寸为100±2μm、硅槽深度为390±2μm的悬浮微结构样件。

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