多层瓷介电容常见失效模式及失效机理研究

作者：王瑶

来源：环境技术, 2020, 38(06): 105-109.

• 多层陶瓷电容器
• 制造工艺
• 微观失效机理
• 失效原因
• 预防改进措施

电容器主要的电参数为电容值、绝缘电阻、击穿电压以及损耗角正切值。引起陶瓷电容器上述电参数超差失效的原因通常为损耗性失效、过应力失效、内部缺陷以及外部缺陷引起的失效四类。本文对典型失效模式短路、开路以及电参数漂移相应的微观失效机理及失效原因展开了深入研究,并提出了相应建议和预防措施。

• 单位
  中国航天科工集团公司