片式电阻硫化机理及失效分析

作者：林春贤^*; 杨玉丽

来源：家电科技, 2020, (03): 107-109.

DOI：10.19784/j.cnki.issn1672-0172.2020.03.017

• 片式电阻
• 硫化
• 失效分析

针对片式电阻阻值异常问题,采用能谱分析和扫描电镜等手段进行分析,确认是由于片式电阻焊盘处出现硫化现象导致阻值异常,进一步研究了片式电阻硫化机理,并提出了预防电阻硫化的措施。

• 单位
  珠海格力电器股份有限公司