IPM模块抗ESD能力研究

作者:冯宇翔*
来源:家电科技, 2020, (04): 85-87.
DOI:10.19784/j.cnki.issn1672-0172.2020.04.012

摘要

为研究IPM ESD失效的原因,提出解决ESD问题的办法,遂进行了ESD回路理论分析及实验验证。由于驱动IC内部有ESD二极管结构,会导致在IPM某两个引脚上打ESD时,ESD电压通过驱动IC内部的ESD二极管传输到IGBT的栅极上,导致IPM ESD失效。

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