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摘要
高纯铂丝作为标准铂电阻温度计的传感元件，其氧化与分解机理是影响温度计稳定性的关键因素。采用差示量热扫描法与X射线光电子能谱共同分析了2种类型的铂氧化物PtO2和PtO在低氧分压下的分解过程。结果表明：2种氧化物的分解温度对氧气分压有明显的依赖性，氧气分压10 kPa下，570℃时PtO2基本完全分解为Pt单质和PtO;在氧分压为3 kPa下PtO2的起始分解温度约为520℃,565℃以上大量分解为Pt单质，且当温度达到585℃时，PtO2分解为Pt的速度达到最快。研究结果可为铂电阻温度计的制作工艺、计量检定规程的完善提供数据参考和理论支持。
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