用于双陀螺组合的DC/DC模块失效分析

作者:孔泽斌; 廉鹏飞*; 张辉; 杨亮亮; 姬青
来源:半导体技术, 2018, 43(10): 795-800.
DOI:10.13290/j.cnki.bdtjs.2018.10.013

摘要

针对应用在双陀螺组合中的DC/DC模块输入级VDMOS内引线熔断、输出级整流二极管发生短路的问题进行了失效分析。通过分析可知,DC/DC模块失效是由于其输出端整流二极管击穿短路,导致输入端电流异常增大,致使VDMOS的源极内引线过流熔断。通过对故障树进行试验和排查,整流二极管击穿是由于DC/DC模块瞬时启动重载使模块内部功率调节时产生个别幅度较高的电压毛刺;并且两路陀螺组合同时启动时,电源母线负载较大致使输入端的电压波动较大;加之整流二极管能量耐受力不够,三方面的原因共同造成DC/DC模块整流二极管被电压击穿,从而引发DC/DC模块失效。此外,根据失效原因提出了在DC/DC模块输出整流二极管两端并联RC吸收网络的改进措施。

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