Si-PIN硅条带探测器的电子学测试

作者：邹鸿; 陈鸿飞; 邹积清; 宁宝俊; 施伟红; 田大宇; 张录

来源：核电子学与探测技术, 2007, (2): 170-173.

DOI：10.3969/j.issn.0258-0934.2007.02.002

• 硅条带探测器
• 空间粒子探测
• 耗尽电容
• 条间串扰

采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试.Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量.介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的串扰问题.

• 单位
  北京大学