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摘要
近年来，国防等应用领域对电子元器件提出了国产化要求，自主设计的高性能复杂可编程逻辑器件（CPLD）应运而生。这些CPLD需要按照一定的标准流程进行筛选、考核，其中擦写寿命是一项重要的考核指标。阐述了采用集成开发环境及自动化测试机台对CPLD擦写寿命进行验证的不足之处，提出了一种CPLD擦写寿命验证装置的设计，经过实际检验，设计的装置稳定可靠，满足大批量器件的验证需求，提高了CPLD擦写寿命验证的效率。
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单位中国电子科技集团公司第五十八研究所
