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摘要
目的通过比较IC Profiler与三维剂量分析仪的测量结果,研究IC Profiler的性能。方法使用IC Profiler与三维剂量分析仪分别测量6 MV X射线、10 MV X射线、6 MV FFF(FFF:Flattening Filter Free,射线束没有被匀整过滤)X射线和10 MV FFF X射线的平坦度、对称性、射野宽度、半影、中心点,对两种设备的测量结果进行对比分析,将IC Profiler测量值减去三维剂量分析仪测量值,得出两者差值数据。结果用IC Profiler测量的射野平坦度结果比使用三维剂量分析仪稍小。对比测量FF和FFF不同大小射野的对称性,IC Profiler均与三维剂量分析仪测量值差别很小,符合度好,可以用于测量所有射野的对称性。射野宽度测量中,用IC Profiler测量的数值比三维剂量分析仪测量值稍小,差别均值为1.3 mm。IC Profiler半影测量值较小,与三维剂量分析仪结果差别较大。射野中心的测量,两种方法差别较小。结论 ICProfiler不宜测量照射野半影;测量射野的宽度会产生2～3 mm的误差;测量射野平坦度、对称性、射野中心位置,与三维剂量分析仪相一致。在快速检查射野性能、调试加速器时,IC Profiler是一个较好的工具。
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单位郑州大学; 河南省肿瘤医院
