曝光时间是诊断X射线的重要参数之一,根据半导体探测器体积小、灵敏度高及响应快等特点,研制一种用于非介入式测量曝光时间等参数的测量仪,建立诊断X射线曝光时间测量模型,并给出曝光时间非介入式测量的电路构成和软件流程。实验表明:研制的诊断X射线多参数测量仪适用于曝光时间的非介入式测量和校准。
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