基于密度泛函理论的外电场下c-C4F8的结构及其特性

作者：李亚莎^*; 孙林翔; 梅益明; 周筱; 谢云龙

来源：分子科学学报：中英文版, 2020, 36(02): 131-137.

DOI：10.13563/j.cnki.jmolsci.2020.02.007

• c-C4F8
• 外电场
• 绝热电子亲和能
• 红外光谱

采用密度泛函理论CAM-B3LYP/DGDZVP2对c-C4F8进行优化计算,得到基态分子结构.在该结构基础上施加线性外电场(0～10.284 V·pm-1),获得了c-C4F8的几何特性、能量、前线轨道能级、键能和红外光谱数据.结果表明:当电场沿x轴变大时,c-C4F8的点群从D2d变为C1,偶极矩和极化率不断增大,结构稳定性降低;分子总能量和能隙不断减小,且C(4)—F(10)键的键能降低速度最快,最有可能率先在外电场作用下断裂,导致c-C4F8结构和对称性被破坏.同时c-C4F8的绝热电子亲和能单调上升,分子吸收自由电子的能力增强;红外光谱中,吸收峰的个数增加,4个主要吸收峰发生了红移.

• 单位
  三峡大学