片式多层陶瓷电容器失效分析

作者：赵冰清; 解伟; 李文涛; 顾岳峰; 冯体艳

来源：河南科技, 2018, (35): 75-78.

• 片式多层陶瓷电容器
• 失效机理
• 隐患排查

本文通过对片式多层陶瓷电容器失效原因进行模拟、验证,总结出片式多层陶瓷电容器的各种失效机理,并将其失效机理应用于过程排查,从而锁定产生不良的最终原因,进而消除隐患,使电容器正常运行。