航天用探测器组件芯片寿命考核方法研究

作者：娄光楠; 王成刚; 解一文; 东海杰

来源：科技视界, 2019, (22): 31-32.

DOI：10.19694/j.cnki.issn2095-2457.2019.22.012

• 探测器芯片
• 失效
• 工作寿命

红外焦平面探测组件是军事侦察、预警卫星等航天遥感仪器的核心组件,其应用环境特殊且出现故障无法修复,这就对航天用探测器组件提出了高可靠、长寿命的实际要求。探测器芯片作为探测器组件的重要组成部分,其工作寿命直接影响探测器组件的工作寿命。本文对航天用探测器组件的工作环境、失效模式进行了分析,找到导致失效的应力,并结合工作剖面,给出寿命考核方法,以供探讨。

• 单位
  中国电子科技集团公司第十一研究所