摘要

高光谱影像具有"谱像合一"的特征,因而可以从谱和像两个角度对高光谱影像进行分形分析。本文把计算表面分形维的双层地毯法用于计算Hyperion高光谱曲线的分形维,根据每一像元的高光谱曲线计算出每一尺度的上分形信号和下分形信号,并对分形信号值及分形特征尺度进行分析。结果表明对于不同地物其分形信号在某些特定尺度(分形特征尺度)有较大的差异,而且对于Hyperion高光谱影像,下分形信号可更有效地突出地物特征。文章最后简要讨论了上分形和下分形、起始计算尺度以及原始采样点数目对分形特征尺度的影响。