一种基于JTAG接口的SIP测试调试系统设计技术

作者：杨亮; 于宗光; 魏敬和

来源：半导体技术, 2018, 43(04): 316-320.

DOI：10.13290/j.cnki.bdtjs.2018.04.014

• 联合测试行动组(JTAG)
• 系统级封装(SIP)
• 无损测试
• 片上系统(SOC)
• LabView软件

随着系统级封装(SIP)的内部器件数量和规模的不断增长,SIP内部器件的可测性、可调试性以及SIP后的可靠性问题变得越来越突出。当SIP器件在使用过程中出现问题,进行无损测试定位的难度也越来越大。为此,针对一款集成了片上系统(SOC)、一片四通道模拟数字转换器(ADC)、两片两通道数字模拟转换器(DAC)和多个无源器件的SIP系统,开发了基于联合测试行动组(JTAG)接口的能复用中央处理器(CPU)调试软件的SIP测试调试技术。该技术通过复用SOC自有的JTAG引脚,实现对SIP内各个器件的测试。编写了基于Lab View软件的图形化测试程序,提高了测试效率。测试结果表明,设计的SIP测试调试系统能够完好地复用CPU的调试软件并完成测试工作,满足设计要求和测试调试需求,为后续集成更多器件的SIP测试奠定了良好的技术基础。

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所