IC测试过程中电源优化处理方法

作者：武晓捷

来源：中国集成电路, 2018, 27(04): 73-75.

• 波形
• VB
• J750

本文针对芯片测试过程中存在的芯片电源信号质量问题,介绍了通过示波器和基于泰瑞达J750测试机台,对芯片测试过程中的电源信号进行优化,从而提高了测试过程中的良品率。