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IC测试过程中电源优化处理方法
作者:武晓捷
来源:
中国集成电路
, 2018, 27(04): 73-75.
波形
VB
J750
摘要
本文针对芯片测试过程中存在的芯片电源信号质量问题,介绍了通过示波器和基于泰瑞达J750测试机台,对芯片测试过程中的电源信号进行优化,从而提高了测试过程中的良品率。
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