碱熔-ICP-OES和XRF测定硅酸盐样品中主量元素的比较

作者：卜道露; 张志翔; 熊韬; 龚仓; 张坤

来源：应用化工, 2021, S1: 378-385.

DOI：10.16581/j.cnki.issn1671-3206.2021.s1.058

• X射线荧光光谱法
• 电感耦合等离子体发射光谱法
• 碱熔
• 硅酸盐
• 主量元素

通过电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)和x射线荧光光谱法(XRF)分别测定硅酸盐样品中主量元素(SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、MnO、P2O5、TiO2),对样品制备、基体效应的校正、方法的检出限、精密度和准确度等实验进行了比较。ICP-OES采用无水偏硼酸锂高温熔融分解样品，王水溶液振荡溶解提取，各元素选用干扰较少的分析线进行测定。XRF采用超基性岩、黏土和部分国家一级的水系沉积物、土壤、岩石标准物质熔融制样，绘制校准曲线，使用基本参数法(FP)校正基体效应。结果表明，ICP-OES法比XRF测定线性范围宽(SiO2除外),检出限低，但XRF分析效率高，操作便捷，成本低，绿色环保，结果理想，是目前大批量硅酸盐样品快速测定的可靠方法。