针对柔性电路在宇航运行的环境进行综合辐照试验，明确辐照试验对柔性电路表面微观形貌的影响，并通过XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)分析微观形貌变化中柔性电路表面聚酰亚胺基团变化情况。通过分析可知，聚酰亚胺主链结构具有较强抗辐照功能，但是聚酰亚胺聚合过程中缺陷基团可能导致聚酰亚胺加速老化，进而可能造成柔性电路的性能发生变化。
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