基于高频损耗比的干式空心电抗器制造缺陷检测方法及应用探讨

作者：葛计彬; 张波; 郝文光; 卞震洪; 吴宝春; 张天

来源：变压器, 2021, 58(11): 61-64.

DOI：10.19487/j.cnki.1001-8425.2021.11.020

• 干式空心电抗器
• 制造缺陷
• 高频损耗

本文通过分析电抗器因制造工艺导致少匝和极限工艺偏差时600Hz损耗,提出高频损耗可作为电抗器制造缺陷的检测手段及其适用范围,并以600Hz的实测损耗与理论损耗之比是否超过1.5作为判据,以同组任两台损耗之比是否超过1.5作为辅助判据,同时列举应用实例。

• 单位
  北京电力设备总厂有限公司