运行时间和机内温度对电子产品EMI试验结果的影响

作者：何观寰; 陈正茂; 王鑫; 杜华杰

来源：日用电器, 2023, (07): 77-81.

• 电子产品
• 电磁兼容
• 运行时间
• 温度效应

许多电子产品在电磁兼容发射测试时，试验结果会随产品运行时间变化而产生差异。本文通过一系列对比试验，研究产品运行时间和机内温度对EMI测量结果的影响，并对该现象做出原理分析，最后做出建议与总结。

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  威凯检测技术有限公司