脑弥漫性轴索损伤的磁敏感加权成像表现

作者:刘智勇; 孙志刚; 鲁怀康; 包金锁
来源:内蒙古民族大学学报(自然科学版), 2014, 29(06): 688-691.
DOI:10.14045/j.cnki.15-1220.2014.06.025

摘要

目的:探讨脑弥漫性轴索损伤(DAI)的SWI表现和诊断价值.方法:回顾性分析临床确诊的90例DAI患者,均行常规T1WI、T2WI、FLAIR和DWI及SWI扫描.结果:SWI在90例DAI患者中,能够发现常规MRI不能显示的微灶性出血,明显提高病灶的检出率.结论 :SWI序列能够清晰显示DAI患者出血灶的部位和数目,能够准确反映创伤的严重程度,为DAI的诊断、治疗和评估预后提供有价值的信息.

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