多重老化下纳米复合PI薄膜介电及耐局放性能分析

作者：鄂士平; 刘东超^*; 熊慕文; 高森

来源：绝缘材料, 2021, 54(03): 18-23.

DOI：10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2021.03.003

• 聚酰亚胺薄膜
• 老化
• 局部放电
• 介电性能

在270℃、70℃及90%RH、320℃条件下对PI纳米复合薄膜进行长时间多重老化,测试了不同老化阶段PI薄膜的厚度、介电谱、电导率、局部放电起始电压及绝缘寿命。结果表明:经270℃老化后,PI薄膜的绝缘性能并未发生明显改变;而高湿度环境会对PI薄膜的介电谱、电导特性及局部放电起始电压产生明显影响但并未缩短其绝缘寿命;320℃高温会使PI薄膜内部结构发生变化,从而使其绝缘寿命缩短约30%。

• 单位
  南京南瑞继保电气有限公司