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进口集成电路及其相应国产化集成电路的电磁脉冲损伤对比研究
作者:张沛; 武占成
来源:
微波学报
, 2012, S3: 323-326.
方波注入
敏感端对
电磁损伤 square wave injection
sensitive ports
electromagnetic damage
摘要
引进武器装备的国产化一直是我军装备研究的重点,本文通过对某进口防空导弹武器系统中的五类集成电路和对应的国产集成电路进行了方波注入电磁损伤效应的研究,得到了进口器件和国产器件在损伤过程中的异同之处。
单位
中国人民解放军陆军工程大学
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