针对高级加密标准算法的光故障注入攻击

作者：王红胜; 宋凯; 张阳; 陈开颜

来源：计算机工程, 2011, (21): 97-99.

• 光故障注入
• 紫外线照射
• 旁路攻击
• 高级加密标准
• 非易失性存储器 optical fault injection
• ultraviolet irradiation
• Side ChannelAttack(SCA)
• Advanced Encryption Standard(AES)
• non-volatile memory

为获取芯片的秘密信息,针对其中的高级加密标准(AES)算法,提出一种光故障注入攻击方法。通过对开封后的微控制器进行紫外线照射,证明非易失性存储器内容能被紫外线擦除,并找出照射时间与擦除率间的关系。在AT89C52微控制器芯片上,对AES-128密码算法中的S-box进行光故障注入攻击,改变存储器单元的逻辑状态,以成功获取密钥。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学