摘要
三维物体表面形貌测量系统是通过数字正弦光栅移相原理来实现,当在测量时根据移相要求投射出正弦结构光,它及易受到外界光强的影响。本文通过在三维数据获得过程中外界自然光线对系统的影响,系统自适应光线强度,以致调节达到最佳测量光强环境。系统中应用嵌入式芯片FPGA为主控制器,通过控制图像采集芯片CMOS摄像头采集光强数据,利用VGA接口投射背景光强度来对比调节,测量环境的光强度通过一种PWM波控制高亮LED完成自适应的方法。
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单位黑龙江省科学院自动化研究所