全芯片ESD保护环的研究与设计

作者:赵莉
来源:电子世界, 2020, (13): 68-69.
DOI:10.19353/j.cnki.dzsj.2020.13.037

摘要

<正>从芯片可靠性的角度出发,全芯片的ESD防护设计非常重要。因此,在芯片设计之初对全芯片的ESD保护环提出设计要求就显得十分重要。众多周知,单个ESD防护器件的高防护特性不能代表整个芯片的ESD防护特性,特别是版图面积较大、电流泄放路径较多时,因此需要考虑全芯片ESD保护环中电流泄放最优路径及最优