错误相关负电位与内化心理障碍

作者：薛茜; 程灶火

来源：中国健康心理学杂志, 2011, (01): 115-118.

DOI：10.13342/j.cnki.cjhp.2011.01.010

• 内化心理障碍
• 内表型
• 错误相关负电位
• 综述

错误相关负电位(ERN)是事件相关电位的一个负成分,出现在大脑错误反应后50～100m s,产生于大脑前扣带回皮质(ACC),可以反映大脑的错误检测、冲突监控、强化学习等功能。已有研究发现无论是内化心理障碍还是外化心理障碍均存在ERN活动异常,提示ERN可能属于内化和外化心理障碍的内表型,或许能作为心理障碍早期诊断或预测的客观指标。本文通过国内外文献回顾,试图了解抑郁症、焦虑症和强迫症等内化心理障碍的ERN特点及相关机制,并在此基础上对未来的研究提出一些不成熟的想法。

• 单位
  皖南医学院; 无锡市精神卫生中心