一种通道复用的高可靠性隔离IGBT栅极驱动器

作者：张龙; 马春宇^*; 赵以诚; 张峰

来源：微电子学与计算机, 2023, (04): 80-87.

DOI：10.19304/J.ISSN1000-7180.2022.0429

• 通道复用
• 退饱和
• 欠压闭锁
• IGBT隔离栅极驱动器

采用SIMC 0.18 um BCD工艺,设计一种输出电流2 A,隔离电压5 kV,CMTI为100 kV/us的单通道隔离IGBT栅极驱动器,该IGBT栅极驱动器集成双侧欠压保护、退饱和保护,具有高可靠性.为节省芯片面积和成本,提出一种通道复用技术,将高压侧退饱和状态监测信号(FLTH)和欠压闭锁状态监测信号(RDH)编码后使用一个数字隔离通道同时传输至低压侧,简化电路结构,节省芯片面积约10%.当发生欠压闭锁时,隔离式IGBT栅极驱动器不工作；当未发生欠压闭锁时,可以通过编码信号的脉冲宽度来区分是否发生退饱和状态.仿真与测试结果表明：采用通道复用技术可以准确的将高压侧的退饱和状态监测信号和欠压闭锁状态监测信号传输至低压侧.

• 单位
  中国科学院自动化研究所