摘要
采用固相反应法制备了以V-Bi置换Ti4+的LiZnTi铁氧体,获得较低的铁磁共振线宽和矫顽力,同时还保证其具有较高的饱和磁化强度、剩磁比和烧结密度。利用X射线衍射仪和扫描电子显微镜(SEM)等分析了在880℃和900℃烧结温度下,V-Bi二元取代对LiZnTi铁氧体的微观结构和电磁性能的影响。研究结果表明,其微观形貌与V-Bi取代量密切相关,适量的V-Bi取代可改善材料的微观结构,但过量的V-Bi会阻碍晶粒的生长。随着V-Bi取代量的增加,样品的饱和磁化强度Bs、剩磁比先增大后减小,铁磁共振线宽ΔH、矫顽力Hc先减小后逐渐增大。
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单位电子科技大学; 电子薄膜与集成器件国家重点实验室