摘要
测量了(yxl) 30°切La3Ga5SiO14 (LGS)晶体 30~300℃温度范围内的谐振特性。室温时压电常数d11和d14分别为5. 59×10-12C/N和-5. 01×10-12C/N。在室温至 300℃范围内 (yxl) 30°切La3Ga5SiO14晶片厚度切变振动的谐振频率和机电耦合系数k′26都随温度升高而升高,因此压电常数d11和d14也随温度升高而略有升高。
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单位山东大学; 晶体材料国家重点实验室