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摘要
本发明公开了一种基于光学微腔的低维材料折射率测定样品及测定方法,通过镀膜方法来制备获得法布里-珀罗腔(F-P)的光学微腔结构,只需将二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料嵌埋到光学微腔中,应用显微光谱仪对比测量有、无低维材料区域的透射谱或反射谱,通过腔模峰位的移动获得低维材料对光程差的改变信息,就可以精确计算出低维材料的折射率。本发明解决了微米尺度低维材料折射率的测量难题并实现精确测量,具有很好的普适性,能够应用于各种二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料折射率的精确测定。
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本发明公开了一种基于光学微腔的低维材料折射率测定样品及测定方法,通过镀膜方法来制备获得法布里-珀罗腔(F-P)的光学微腔结构,只需将二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料嵌埋到光学微腔中,应用显微光谱仪对比测量有、无低维材料区域的透射谱或反射谱,通过腔模峰位的移动获得低维材料对光程差的改变信息,就可以精确计算出低维材料的折射率。本发明解决了微米尺度低维材料折射率的测量难题并实现精确测量,具有很好的普适性,能够应用于各种二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料折射率的精确测定。
