一种反熔丝FPGA应用设计故障

作者：杜涛; 许百川; 李威; 晁醒; 吴方明

来源：微电子学与计算机, 2018, 35(09): 108-117.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2018.09.023

• 反熔丝FPGA
• 应用设计故障
• 扇出能力限制
• 时钟偏斜
• 寄存器掉链

由于反熔丝FPGA架构和实现原理的特殊性,反熔丝FPGA应用设计在物理实现时,存在一种易于发生、故障现象不稳定且具有一定隐蔽性的时序逻辑故障.通过对故障现象、诱因、原理的深入剖析,发现该应用设计故障与反熔丝FPGA的散出能力限制(Fanout limit)关联,并有针对性地提出了根除故障因素的解决方案.通过实测验证表明,本解决方案能有效消除该类应用设计故障.

• 单位
  电子薄膜与集成器件国家重点实验室; 电子科技大学