一种快速MCU修调测试方法

作者：钟纬坤; 李景虎; 付方发

来源：微电子学与计算机, 2021, 38(07): 67-72.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2021.07.012

• 工业级MCU
• Flash自动修调
• 程序自动测试
• 算法设计与优化

为降低具有高精度要求和功能丰富的MCU的修调测试成本,提出一种快速高效的MCU修调测试方法.此方法是将MCU芯片成品通过Flash自动修调补偿来控制电路的输出基准和频率,或者是调整电流,从而实现自动化修调MCU芯片的效果,同时控制MCU模拟从不同pin脚上输出到测试仪器,然后再由软件自动记录测试结果.修调测试使用的是一款工业级8051芯片.测试结果表明:经过这种修调测试方法可以使MCU满足输出精度要求且能快速得到MCU模拟信号输出,并有效地降低MCU的修调测试成本.

• 单位
  哈尔滨工业大学; 福建农林大学