静态光散射法水体悬浮颗粒物粒度测量背景干扰消除方法

作者：石一鸣; 殷高方^*; **京^*; 石朝毅; 贾仁庆; 马明俊; 刘灯奎; 漆艳菊; 夏蒙; 甘婷婷; 杨瑞芳

来源：中国激光, 2022, 49(07): 69-75.

• 测量
• 背景干扰
• 悬浮颗粒物
• 粒度测量
• CMOS探测器

静态光散射法能够实现水体悬浮颗粒物粒度分布的快速检测,但测量精度易受背景干扰。传统的样品散射光减背景光方法无法有效消除背景干扰。提出了基于散射光基线的背景干扰消除方法,在样品散射光减去背景干扰的基础上,拟合出散射光强分布基线,进一步消除背景的干扰。120μm及9.86μm标准粒径样品的测量结果表明,相较于传统方法,120μm样品的D10、D50以及D90的测量相对误差分别由56.9%、17.2%、8.1%下降到0.4%、0.8%、2.8%;9.86μm样品的D10、D50以及D90的测量相对误差分别由17.2%、10.0%、0.1%变到11.6%、3.4%、0.1%。表明基线法能够大幅提升背景干扰的去除效果,提高颗粒物粒度测量的准确性。

• 单位
  中国科学院; 中国科学院安徽光学精密机械研究所; 安徽大学; 中国科学院，安徽光学精密机械研究所; 中国科学技术大学; 合肥学院