为了确切地估计软件缺陷分布,提出了基于AODE和再抽样的软件缺陷预测模型。分析了几种常用贝叶斯分类器的优缺点,以及软件缺陷度量元和再抽样方法,设计了多AODE分类器,该分类器是由多个AODE二分类器组成的。在以上基础上,建立了采用多AODE分类器和再抽样方法的软件缺陷预测模型,实验结果表明,该分类器的分类准确度较常用贝叶斯分类器高。通过收集到的缺陷数据样本比较结果表明,该模型比一些常用贝叶斯模型具有更好的预测准确性和稳定性。
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