摘要

<正>1引子上篇所描绘的磁畴成像方法,虽然有些方法所搭载的工具很强大,比如洛伦兹成像搭载的TEM、桑巴成像搭载的SEM等,都与电子显微镜有关,但这些方法的基本机制都可以在经典电磁学框架下描述,也因此这些成像的衬度只是决定于成像位点附近的磁矩或杂散场(矢量,有大小和方向)。分辨率问题可以各显神通,但这些成像技术一个根本

  • 单位
    固体微结构物理国家重点实验室