SRAM辐射效应测试装置的研制与应用

作者：赵又新

来源：核电子学与探测技术, 2006, (04): 414-416+445.

• SRAM
• 辐射效应
• 单粒子翻转、单粒子锁定、电流检测
• 锁定计数
• 测试装置 SRAM
• radiation effect
• single event upset
• event latch up
• electric current detect
• event Latch up count
• testing equipment

SRAM辐射效应测试装置由主机和下位计算机测试板构成,可在多种辐射源下进行SRAM单粒子翻转、单粒子锁定等实验。介绍了SRAM辐射效应测试装置的硬件、软件构成及有关测试技术。利用该装置在激光辐射效应实验装置及HI-13串列加速器上成功地进行了SRAM的辐射效应实验。通过对SRAM芯片电流的检测,断电保护解决了在SRAM实验过程中SRAM芯片的损坏问题。

• 单位
  兰州工业高等专科学校