下一代光传输系统DAC芯片动态性能测试方法

作者：菅端端; 张驰

来源：电子测量技术, 2018, 41(05): 42-46.

DOI：10.19651/j.cnki.emt.1701261

• 数模转换器
• 光传输系统
• 增益补偿

针对下一代光传输系统对数模转换器(DAC)高采样率、大带宽的要求,提出针对该类DAC动态性能的测试方法。通过分析光传输系统中DAC芯片的特点,解决了内部预设波形无法直接测量,采样时钟不能直接捕获,分辨率不易统计,差损的非线性导致带宽测量产生偏差等问题,并将该测试方法应用于国家高技术研究发展计划(863计划)"下一代光传输系统中高速模数转换(ADC)/数模转换(DAC)芯片和关键技术研究"项目的评测中。测试结果表明,该方法解决了最高采样率70 GSPS带宽16 GHz的超高速DAC测试中的一些关键问题,基本可以满足下一代400Gbps光传输系统对DAC的动态性能测试要求。

• 单位
  中国电子技术标准化研究院