基于遗传退火算法的装配线设计多目标优化方法

作者：秦永法; 赵明扬; 陈书宏

来源：计算机集成制造系统, 2004, (11): 1416-1420+1432.

DOI：10.13196/j.cims.2004.11.98.qinyf.016

• 装配线设计
• 多目标优化
• Pareto最优化 assembly line design
• multi-objective optimization
• Pareto optimality

针对混装配线设计这一有约束的多目标优化问题,建立了数学模型。将基于Pareto的解的分级方法与Lp-范数形式的非线性机制相组合,构建了基于遗传退火算法多目标优化方法。重点阐述了个体编码、染色体检修、多目标处理机制等关键技术。设计了算法流程图,并开发了优化程序。该方法克服了加权和方法的不足,用模拟退火改善了遗传算法全局寻优性能。计算实例表明,随着迭代次数的增加,每代的非受控点逐渐收敛于Pareto最优边界,是一种混装线设计多目标优化的新方法。

• 单位
  中国科学院研究生院; 中国科学院沈阳自动化研究所; 扬州大学