随机数器件是一种广泛应用于信息安全领域的重要半导体器件,随机数测试是判定随机数器件质量好坏的重要手段,随机数测试通常是基于板级的随机数采集和检测。本文实现了一种基于V93000测试仪的随机数采集检测方法,文中对ATE的随机数采集检测原理和具体方法进行了介绍,同时还提供了ATE随机数采集检测实例,进一步介绍该了方法的实现过程。
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