采用优化试验方法,通过对亚硫酸钠还原法制备超细Cu2O粉末的工艺路线优化,获得了不添加表面活性剂情况下高纯Cu2O制备工艺参数。利用X射线粉末衍射仪(XRD)、扫描电镜等对最优工艺参数条件下制备的样品进行了表征。结果表明,未添加表面活性剂的最优试验条件下制备Cu2O的粒径为2μm左右、含量为99.3%,样品中Cu2O、杂质等含量均优于HG2961-2010标准中优等品的要求。