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基因芯片技术与缺血性脑损伤的基础研究
作者:荆志伟; 王忠; 杨俊红; 胡木林; 周才秀; 高思华; 王永炎
来源:
中风与神经疾病杂志
, 2008, (03): 383-384.
缺血性脑损伤
基因芯片技术
基因表达变化
局灶性脑缺血
缺血半暗带
HIF
缺血耐受
缺血区
单位
河南中医学院第一附属医院; 中国中医科学院中医临床基础医学研究所;
北京中医药大学
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