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摘要
研究了长脉冲激光对硅基PIN光电探测器输出信号的恢复时间影响机制，基于热效应，建立了长脉冲激光对硅基PIN光电探测器恢复时间的模型。实验测量了不同偏压、脉宽和能量密度下硅基PIN探测器的恢复时间，得到了恢复时间的变化规律。结果表明：偏置电压对恢复时间几乎没有影响，而脉宽和能量密度对其影响较大。这主要是因为脉宽和能量密度引起的温度变化比较显著，而温度影响非平衡载流子寿命，从而导致其恢复时间的变化。
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单位物理学院; 长春理工大学
